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    半封裝測試探針(SEMI）-Z系列探針

    半封裝測試探針(SEMI）-Z系列探針

    Z系列探頭適合QFN封裝芯片測試，間距從300mm - 800mm。高頻可靠的RFSignal完整性，自清洗系統確保移除Pad的Sn，以獲得更高的測試收率。

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